Patent citation, R&D spillover, and Tobin's Q: Evidence from Taiwan semiconductor industry

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Review of quantitative finance and accounting
Weitere Verfasser:	Chin, Chen-lung (BerichterstatterIn), Lee, Picheng (BerichterstatterIn), Chi, Hsin-Yi (BerichterstatterIn), Anandarajan, Asokan (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	2006
Schlagworte:	Patent > Tobins Q > Forschung > Spillover-Effekt > Halbleiterindustrie > Taiwan > Aufsatz in Zeitschrift
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Beschreibung
ISSN:	0924-865X