Image analysis techniques MIPPR 2005 ; 31 October - 2 November 2005, Wuhan, China ; [Fourth International Symposium on Multispectral Image Processing and Pattern Recognition]

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Bibliographische Detailangaben
Körperschaften: State Key Laboratory of Information Engineering in Surveying, Mapping and Remote Sensing (BerichterstatterIn), SPIE, The International Society for Optical Engineering (BerichterstatterIn), International Symposium on Multispectral Image Processing and Pattern Recognition (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser: Li, Deren (BerichterstatterIn), Ma, Hongchao (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Bellingham, Wash. SPIE 2005
Schriftenreihe:Proceedings of SPIE 6044
Schlagworte:
Online Zugang:Inhaltsverzeichnis
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Beschreibung
Beschreibung:Getr. Seitenz.
Ill., graph. Darst.
28 cm
ISBN:0819460761
0-8194-6076-1
0819460671