Optical fabrication, testing, and metrology II : 13 - 15 September 2005, Jena, Germany

Optical fabrication, testing, and metrology II 13 - 15 September 2005, Jena, Germany

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Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: SPIE, The International Society for Optical Engineering Europe (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser: Duparré, Angela (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Bellingham, Wash. SPIE 2005
Schriftenreihe:Proceedings of SPIE 5965
Schlagworte:
Optical instruments > Congresses > Optical materials > Metrology > Konferenzschrift > Technische Optik
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Beschreibung
Beschreibung:Getr. Zählung [ca. 700 S.]
Ill., graph. Darst
ISBN:0819459836
0-8194-5983-6