Methoden zur Schätzung fraktaler Parameter der Mikrogeometrie von Oberflächen

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Maschinenbau im Informationszeitalter ; Bd. 1: [Vortragsreihen
1. Verfasser: Jahn, Rainer (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Truckenbrodt, Horst (VerfasserIn)
Pages:1
Format: UnknownFormat
Sprache:ger
Veröffentlicht: 1999
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Titel Jahr Verfasser
Gegenüberstellung von Meßverfahren zur Retroreflexion 1999 Slabke, Uwe
Lasernanomeßtechnik - Möglichkeiten, Grenzen und Anwendungen in der modernen Gerätetechnik 1999 Jäger, Gerd
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MIS sensors for gas concentration measurements and reactivity diagnostics of thin metallic layers 1999
Methoden zur Schätzung fraktaler Parameter der Mikrogeometrie von Oberflächen 1999 Jahn, Rainer
Das streulichtoptische Defektmodell zur Bestimmung der Mikrotopografie von mechanisch bearbeiteten Halbleiter-Oberflächen 1999 Hertzsch, Albrecht
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Neue Konzepte für mikrooptische Sensoren 1999 Manske, Eberhard
Optische Formbestimmung von Mikrostrukturen 1999 Brückner, Peter
Mechanical engineering in the information era 1999 Airila, Mauri
Automatisches intelligentes optisches Messsystem AIMS 1999 Kempny, Milan
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Lösungsbeispiele für quantitative Rastersondenmikroskopie in der Mikro- und Nanotechnik 1999
Dynamische Temperaturkompensation von Präzisionsmeßgeräten 1999
Hochtemperatur-Prozeßmikroskop : Gerätekonzept und Anwendungen 1999 Hamann, Bernd
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Bildverarbeitungsstrategien für ein paralleles 3D-Messverfahren 1999 Hamatschek, U.
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