Special issue on microoptical metrology in China [seven papers ... presented at the Meeting of Micromechanical Behaviors Metrology and Applications, held in Beijing, China, on 24 - 26 October 2003]

Bibliographische Detailangaben

Körperschaft:	Meeting of Micromechanical Behaviors Metrology and Applications (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser:	Li, Xide (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Boston u.a. Elsevier 2005
Schriftenreihe:	Optics and lasers in engineering 43.2005,8
Schlagworte:	Konferenzschrift
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!