Proceedings / 23rd IEEE VLSI Test Symposium : 1 - 5 May 2005, Palm Springs, California

Proceedings / 23rd IEEE VLSI Test Symposium 1 - 5 May 2005, Palm Springs, California

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Bibliographische Detailangaben
Körperschaften: VLSI Test Symposium (VerfasserIn), IEEE Computer Society Test Technology Technical Council (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Los Alamitos, Calif. u.a. IEEE Computer Society 2005
Schlagworte:
Integrated circuits > Very large scale integration > Konferenzschrift > VLSI
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Beschreibung
Beschreibung:XXV. 455 S
ISBN:0769523145
0-7695-2314-5