Special issue on mixed-signal testing [Most of the papers come from those presented at the IEEE International Mixed-Signal Testing Workshop (IMSTW'03) held during June 25 - 27, 2003 in Seville, Spain]

Bibliographische Detailangaben

Körperschaften:	Institute of Electrical and Electronics Engineers (BerichterstatterIn), International Mixed Signal Testing Workshop (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser:	Rueda, Adoración (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Norwell, Mass. u.a. Springer 2005
Schriftenreihe:	Journal of electronic testing 21.2005,3
Schlagworte:	Konferenzschrift
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