Eighth International Symposium on Laser Metrology: Macro-, Micro-, and Nano-Technologies Applied in Science, Engineering, and Industry : [LM-2005] ; 14 - 18 February 2005, Merida, Yucatan, Mexico

Eighth International Symposium on Laser Metrology: Macro-, Micro-, and Nano-Technologies Applied in Science, Engineering, and Industry [LM-2005] ; 14 - 18 February 2005, Merida, Yucatan, Mexico

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Bibliographische Detailangaben
Körperschaften: International Symposium on Laser Metrology: Macro-, Micro-, and Nano-Technologies Applied in Science, Engineering, and Industry (VerfasserIn), Centro de Investigaciones en Optica (BerichterstatterIn), International Measurement Confederation Technical Committee Measurement of Geometrical Quantities (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser: Rodriguez-Vera, Ramon (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Bellingham, Wash. SPIE 2005
Schriftenreihe:Proceedings of SPIE 5776
Schlagworte:
Lasers > Industrial applications > Laser interferometers > Measurement > Optical measurements > Konferenzschrift
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Beschreibung
Beschreibung:XX, 852 S
ISBN:0819457574
0-8194-5757-4