Proceedings 2005 / Twenty First Annual IEEE Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium San Jose, CA, USA, March 15 - 17, 2005

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Bibliographische Detailangaben
Körperschaften:	Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium (VerfasserIn), Institute of Electrical and Electronics Engineers (BerichterstatterIn), Components, Packaging, and Manufacturing Technology Society (BerichterstatterIn), National Institute of Standards and Technology (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser:	Parry, John (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Piscataway, NJ IEEE Service Center 2005
Schlagworte:	Konferenzschrift > Erwärmung > Kühlung
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