Special sections DATE04 and emerging for resource-constrained testing of system chips [... papers presented at the 7th DATE conference, held on 16 - 20 february in Paris ...]

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Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: Design, Automation and Test in Europe Conference (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Stevenage IEE 2005
Schriftenreihe:IEE Proceedings / Computers and Digital Techniques 152.2005,1
Schlagworte:
Konferenzschrift
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