Special sections DATE04 and emerging for resource-constrained testing of system chips [... papers presented at the 7th DATE conference, held on 16 - 20 february in Paris ...]

Bibliographische Detailangaben

Körperschaft:	Design, Automation and Test in Europe Conference (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Stevenage IEE 2005
Schriftenreihe:	IEE Proceedings / Computers and Digital Techniques 152.2005,1
Schlagworte:	Konferenzschrift
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