Reliability assessment of monolithic microcircuits

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Bibliographische Detailangaben
Körperschaft:	Texas Instruments Incorporated (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser:	Adams, Jim D. (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Washington, DC National Aeronautics and Space Administration 1969
Schriftenreihe:	Reliability handbook for silicon monolithic microcircuits Vol. 4
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Beschreibung
Beschreibung:	Getr. Zählung graph. Darst