Two- and three-dimensional vision systems for inspection, control, and metrology II : 26 - 27 October 2004, Philadelphia, Pennsylvania, USA

Two- and three-dimensional vision systems for inspection, control, and metrology II 26 - 27 October 2004, Philadelphia, Pennsylvania, USA

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: Denshi Jōhō Tsūshin Gakkai Tsūshin Sosaieti (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser: Harding, Kevin G. (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Bellingham, Wash. SPIE 2004
Schriftenreihe:SPIE proceedings series 5606
Schlagworte:
Computer vision > Congresses > Imaging systems > Three-dimensional display systems > Quality control > Optical measurements > Metrology > Konferenzschrift
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Beschreibung
Beschreibung:VII, 188 S
Ill., graph. Darst
ISBN:0819455598
0-8194-5559-8