Thin film analysis by X-Ray scattering

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Birkholz, Mario (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Fewster, Paul F. (BerichterstatterIn), Genzel, Christoph (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Weinheim WILEY-VCH c 2006
Schlagworte:	Thin films > X-ray spectroscopy > Dünne Schicht > Röntgenstreuung > Röntgenstrukturanalyse
Online Zugang:	Inhaltsverzeichnis Cover Publisher description Table of contents only
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