Ultradünne nanostrukturierte Diffusionsbarrieren gemeinsamer Abschlußbericht zum Verbundprojekt

Copper-metallization, diffusion barrier, amophous, ternary, Ta, TaN, TaSiN, WNx, WSiN, PVD, CVD

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Ecke, Romona (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Schulz, Stefan E. (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:ger
Veröffentlicht: Dresden AMD Saxony LLC & Co. KG u.a. 2004
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