Scanning probe microscopy

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Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser: Onishi, Hiroshi (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Tokyo Publication Office, The Japan Society of Applied Physics 2004
Schriftenreihe:Japanese journal of applied physics Regular papers, brief communications & review papers 43.2004,7B = 597
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Beschreibung
Beschreibung:Die Vorlage enth. insgesamt 2 Werke
Beschreibung:S. 4465 - 5084, 18 S
Ill., graph. Darst