Scanning probe microscopy
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Format: | UnknownFormat |
Sprache: | eng |
Veröffentlicht: |
Tokyo
Publication Office, The Japan Society of Applied Physics
2004
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Schriftenreihe: | Japanese journal of applied physics Regular papers, brief communications & review papers
43.2004,7B = 597 |
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Beschreibung: | Die Vorlage enth. insgesamt 2 Werke |
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Beschreibung: | S. 4465 - 5084, 18 S Ill., graph. Darst |