Elektronische und optische Eigenschaften, in-situ-Ramanstreuung, in-situ-Ellipsometrie und Ionenstrahlanalytik von flexiblen Cu-(In, Ga)-(Se, S)-Dünnfilm-Solarzellen : Schlussbericht des BMBF-Vorhabens ; über den Zeitraum 01. August 2001 - 31. Dezember 2003 ; innerhalb des BMBF-Wachstumskerns INNOCIS "Kostengünstige, fexible CIS-Photovoltaik

Elektronische und optische Eigenschaften, in-situ-Ramanstreuung, in-situ-Ellipsometrie und Ionenstrahlanalytik von flexiblen Cu-(In, Ga)-(Se, S)-Dünnfilm-Solarzellen Schlussbericht des BMBF-Vorhabens ; über den Zeitraum 01. August 2001 - 31. Dezember 2003 ; innerhalb des BMBF-Wachstumskerns INNOCIS "Kostengünstige, fexible CIS-Photovoltaik

In-situ ellipsometry, in-situ raman spectroscopy, ion beam analysis, ion nanoprobe, luminescence imaging, photocurrent imaging, CulnSe2 solar cells, flexible substrate, pulsed laser deposition, ZnO thin films

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Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: Universität Leipzig Institut für Experimentelle Physik 2 (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser: Grundmann, Marius (BerichterstatterIn), Lorenz, Michael (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:ger
Veröffentlicht: Leipzig 2004
Schlagworte:
Forschungsbericht > Dünnschichtsolarzelle > Kupferindiumselenid > Ellipsometrie > Raman-Spektroskopie > Zinkoxid > Dünne Schicht > Impulslaserbeschichten
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Beschreibung
Zusammenfassung:In-situ ellipsometry, in-situ raman spectroscopy, ion beam analysis, ion nanoprobe, luminescence imaging, photocurrent imaging, CulnSe2 solar cells, flexible substrate, pulsed laser deposition, ZnO thin films
Beschreibung:Förderkennzeichen BMBF 03 WKI 09. - Verbund-Nr. 01022292. - Engl. Zsfassung u.d.T. Electronic and optical properties, in-situ ellipsometry, in-situ raman spectroscopy, and ion beam analysis of flexible Cu-(In, Ga)-(Se, S)-thin film solar cells
Unterschiede zwischen dem gedruckten Dokument und der elektronischen Ressource können nicht ausgeschlossen werden
Auch als elektronische Ressource vorh
Beschreibung:56 Bl
Ill., graph. Darst