Spectral relative Intensity Measurements for trace element determinations in plant samples

Utrecht, Nat. Wiss. Diss. v. 23. Juni 1952

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	Smit, Johannes (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Veröffentlicht:	's-Gravenhage Excelsior (1952)
Schlagworte:	Spektralanalyse > Optik > Physik
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