Die Analyse von Gläsern, Oxyden und Konzentrationsprofilen in Oberflächen und Oberflächenbelägen mit den von hochenergetischen Projektilionen ausgelösten Sekundärionen (SIMS), Photonen (IBSCA, SCANIIR), sowie mit reflektierten Projektilionen (LEISS, HEISS)
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| Format: | UnknownFormat |
| Veröffentlicht: |
Mainz
1981
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Tag hinzufügen | Beschreibung: | Die vorl. Ausg. wurde Ende 1979 nochmals in einigen Teilen erg |
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| Beschreibung: | 149 Bl. : graph. Darst. ; 31 cm |