Die Grenzen der Anwendung von schlechtauflösenden Meßsystemen zur Ermittlung integraler und differentieller Parameter in Teilchenfeldern
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1. Verfasser: | |
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Format: | UnknownFormat |
Veröffentlicht: |
1972
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Beschreibung: | München, Techn. Uni.̱, Fak. f. Masch. u. Elektrot., Diss. v. 9.2.1972 |
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Beschreibung: | 2 Bl., 45 S. 8" |