Measurement Techniques for thin films Ed. by Bertram Schwartz and Newton Schwartz

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser: Schwartz, Bertram (BerichterstatterIn), Schwartz, Newton (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Veröffentlicht: New York, N.Y. Electrochem. Soc. (1967)
Ausgabe:Reprint
Schlagworte:
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Beschreibung
Beschreibung:VI, 364 S. mit Abb. 8"