Physical Measurements and analysis of thin films (Selected papers from the 1966 Eastern Analytical Symposium.) Ed. by E(dward) M. Murt and W(illiam) G. Guldner

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Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser:	Murt, Edward M. (BerichterstatterIn), Guldner, William G. (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Veröffentlicht:	New York Plenum Pr. 1969
Schriftenreihe:	(Progress in analytical chemistry 2)
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Beschreibung
Beschreibung:	XI, 194 S. mit Abb. 8"