DRIP-X Tenth International Conference on Defects: Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors ; Batz-sur-Mer, France, September 29 - October 2, 2003

Bibliographische Detailangaben

Körperschaft:	International Conference on Defects: Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Landesman, Jean-Pierre (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Les Ulis EDP Sciences 2004
Schriftenreihe:	The European physical journal / Applied physics 27.2004,1/3
Schlagworte:	Konferenzschrift > Halbleiter > Gitterbaufehler
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