The use of long-run restrictions for the identification of technology shocks

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Federal Reserve Bank of St. Louis Review
1. Verfasser: Francis, Neville (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Owyang, Michael T. (VerfasserIn), Theodorou, Athena T. (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: 2003
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Beschreibung
Beschreibung:graph. Darst
ISSN:0014-9187