A new Bayesian approach to quality control charts

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Metrika
1. Verfasser: Chiu, W. K. (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Leung, M. P. Y. (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Veröffentlicht: 1980
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