This issue includes selected papers from: the 8th International Mixed-Signal Testing Workshop held in Montreux, 2002 [(IMSTW'02) ... 18 - 21 June 2002]

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: International Mixed Signal Testing Workshop (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Kerkhoff, Hans G. (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Orlando, Fla. u.a. Elsevier 2003
Schriftenreihe:Microelectronics journal 34.2003,10
Schlagworte:
Konferenzschrift
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Beschreibung
Beschreibung:S. 887 - 986
Ill., graph. Darst