Refractions-Tafeln für Kreis-, Faden- und Positions-Micrometer, anwendbar in Polhöhen von 32-90 Grad

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	Kayser, E. (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Veröffentlicht:	Danzig 1871
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