Nahfeldcharakterisierung von Nahfeldsonden Abschlußbericht des BMBF-Projekts 13N7691 ; Laufzeit des Vorhabens: 1.10.1999 - 31.12.2002

Optical near-field microscopy, near-field probes, calibration structures for near-field microscopy

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaften: WITEC Wissenschaftliche Instrumente und Technologie GmbH (BerichterstatterIn), Universität Kassel Institut für Technische Physik (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser: Koenen, Joachim (BerichterstatterIn), Wellhöfer, Matthias (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:ger
Veröffentlicht: Ulm 2003
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Beschreibung
Zusammenfassung:Optical near-field microscopy, near-field probes, calibration structures for near-field microscopy
Beschreibung:Engl. Zsfassung u.d.T.: Investigations and developments towards a calibration standard for scanning near-field optical microscopy
Unterschiede zwischen dem gedruckten Dokument und der elektronischen Ressource können nicht ausgeschlossen werden
Auch als elektronische Ressource vorh
Beschreibung:62 Bl
Ill., graph. Darst