Optical manufacturing and testing V 3 - 5 August 2003, San Diego, California, USA
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Format: | UnknownFormat |
Sprache: | eng |
Veröffentlicht: |
Bellingham, Wash.
SPIE
2003
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Schriftenreihe: | SPIE proceedings series
5180 |
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Beschreibung: | X, 458 S |
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ISBN: | 0819450537 0-8194-5053-7 |