The atomic force microscope (AFM)

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Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser:	Marchant, Roger E. (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Amsterdam u.a. Elsevier 2000
Schriftenreihe:	Colloids and surfaces / B 19.2000,4
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Beschreibung
Beschreibung:	S. 302-415 Ill., graph. Darst