High-resolution X-ray scattering from thin films and lateral nanostructures

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Pietsch, Ullrich (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Holý, Václav (VerfasserIn), Baumbach, Tilo (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	ger
Veröffentlicht:	New York, NY, Berlin, Heidelberg u.a. Springer 2004
Ausgabe:	2. ed.
Schriftenreihe:	Advanced texts in physics Physics and astronomy online library
Schlagworte:	Thin films > Optical properties > X-rays > Scattering > Diffraction > Nanostructured materials > Dünne Schicht > Röntgenstreuung > Mehrschichtsystem
Online Zugang:	Einführung/Vorwort Inhaltsverzeichnis Kapitel 1 Cover Publisher description
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