Multiprobe scanning probe microscopy in characterizing precision optical thin films and multilayers

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Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser:	Sahoo, N. K. (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Mumbai Bhabha Atomic Research Centre 2001
Schriftenreihe:	BARC E 2001,32
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Beschreibung
Beschreibung:	II, 45 S