Proceedings 2003 / Nineteenth Annual IEEE Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium : San Jose, CA, USA, March 11 - 13, 2003

Proceedings 2003 / Nineteenth Annual IEEE Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium San Jose, CA, USA, March 11 - 13, 2003

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaften: Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium (VerfasserIn), Institute of Electrical and Electronics Engineers (BerichterstatterIn), Components, Packaging, and Manufacturing Technology Society (BerichterstatterIn), National Institute of Standards and Technology (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser: Lasance, Clemens J. M. (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Piscataway, NJ IEEE Service Center 2003
Schlagworte:
Konferenzschrift > Erwärmung > Kühlung
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Beschreibung
Beschreibung:Auf der Haupttitels. auch: SEMI-THERM
IEEE catalog number 03CH37437, 03CH37437C
Beschreibung:XIII, 404 S
Ill., graph. Darst
ISBN:0780377931
0-7803-7793-1
078037794X
0-7803-7794-X