Special issue: accuracy barriers of quantitative electron beam X-ray microanalysis [leading experts in EPMA ... met at the National Institute of Standards and Technology, April 8 - 11, 2002, to participate in a Workshop on "The Accuracy Barrier in Quantitative EPMA and the Role of Standards"]

Bibliographische Detailangaben

Körperschaft:	Workshop on The Accuracy Barrier in Quantitative EPMA and the Role of Standards (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser:	Newbury, Dale E. (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Gaithersburg, Md. NIST 2002
Schriftenreihe:	Journal of research of the National Institute of Standards and Technology 107.2002,6
Schlagworte:	Konferenzschrift
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