Special issue on the 20th IEEE VLSI Test Symposium 2002 [VTS'02, held at Monterey, California, during April 28 through May 2, 2002]

Bibliographische Detailangaben

Körperschaften:	Institute of Electrical and Electronics Engineers (BerichterstatterIn), VLSI Test Symposium (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser:	Ivanov, André (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Norwell, Mass. u.a. Kluwer Acad. Publ. 2003
Schriftenreihe:	Journal of electronic testing 19.2003,2
Schlagworte:
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