Zuverlässigkeit von großflächigen Verbindungen in der Leistungselektronik ein Beitrag zum "Design for Reliability"

Zugl.: Bremen, Univ., Diss., 2002

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Thoben, Markus (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	ger
Veröffentlicht:	Düsseldorf VDI-Verl. 2002
Ausgabe:	Als Ms. gedr.
Schriftenreihe:	Fortschritt-Berichte VDI Reihe 9, Elektronik, Mikro- und Nanotechnik 363 Berichte des Instituts für elektrische Antriebe, Leistungselektronik und Bauelemente der Universität Bremen
Schlagworte:	Hochschulschrift > Leistungselektronik > Elektronisches Bauelement > Zuverlässigkeit > Lötverbindung > Thermische Ermüdung > Lebensdauer
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Beschreibung
Zusammenfassung:	Zugl.: Bremen, Univ., Diss., 2002 Literaturverz. S. 187 - 199
Beschreibung:	VIII, 199 S Ill., graph. Darst 21 cm
ISBN:	3183363097 3-18-336309-7