The reliability data bank of the "Circolo dell'Affidabilità" at IEN

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Bobbio, Andrea A modified reliability expression for the electromigration time-to-failure
1. Verfasser: Bobbio, Andrea (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Saracco, Olimpio (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: 1977
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Beschreibung
Beschreibung:S. 129 - 133