A modified reliability expression for the electromigration time-to-failure

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Microelectronics reliability ; 1975,14
1. Verfasser:	Bobbio, Andrea (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Saracco, Olimpio (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Torino 1975
Schriftenreihe:	Istituto Elettrotecnico Nazionale Galileo Ferraris 1618/1621
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