The reliability data bank of the "Circolo dell'Affidabilità" at IEN
Gespeichert in:
| Veröffentlicht in: | Bobbio, Andrea A modified reliability expression for the electromigration time-to-failure |
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| Format: | UnknownFormat |
| Sprache: | eng |
| Veröffentlicht: |
1977
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Tag hinzufügen | Titel | Jahr | Verfasser |
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| The reliability data bank of the "Circolo dell'Affidabilità" at IEN | 1977 | Bobbio, Andrea |
| The computerized reliability data handling system for electronic components at IEN | 1977 | Bobbio, Andrea |
| Un meccanismo di degradazione : elettromigrazione in corrente alternata | 1976 | Bobbio, Andrea |