On the spread of time-to-failure measurements in thin metallic films

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Mazzetti, Piero Mechanism of noise formation in electric conduction in thin metal films
1. Verfasser:	Bobbio, Andrea (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Saracco, Olimpio (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Veröffentlicht:	1973
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