Microoptics scanning probe microscopy

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Bibliographische Detailangaben
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Tokyo The Japan Society of Applied Physics 2002
Schriftenreihe:Japanese journal of applied physics Pt. 1, Regular papers, short notes & review papers Special issue 41,7B = 562
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Beschreibung
Beschreibung:Die Vorlage enthält insgesamt 2 Werke
Beschreibung:S. 4781 - 5020, 18 S
Ill., graph. Darst