Microoptics scanning probe microscopy
Gespeichert in:
Format: | UnknownFormat |
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Sprache: | eng |
Veröffentlicht: |
Tokyo
The Japan Society of Applied Physics
2002
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Schriftenreihe: | Japanese journal of applied physics Pt. 1, Regular papers, short notes & review papers Special issue
41,7B = 562 |
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Beschreibung: | Die Vorlage enthält insgesamt 2 Werke |
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Beschreibung: | S. 4781 - 5020, 18 S Ill., graph. Darst |