Maximum test versus adaptive tests for the two-sample location Problem

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Neuhäuser, Markus (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Büning, Herbert (VerfasserIn), Hothorn, Ludwig A. (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Berlin Freie Universität Berlin 2003
Ausgabe:1. Aufl.
Schriftenreihe:Diskussionsbeiträge des Fachbereichs Wirtschaftswissenschaft der Freien Universität Berlin 2002/20
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Beschreibung
Beschreibung:17 S
5 schw.-w. Tab
296 mm x 210 mm
ISBN:3935058470
3-935058-47-0