Microprobe characterization of optoelectronic materials

Microprobe characterization of optoelectronic materials

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser: Jiménez, Juan (BerichterstatterIn), Jiménez, J. (HerausgeberIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: New York u.a. Taylor & Francis 2003
Schriftenreihe:Optoelectronic properties of semiconductors and superlattices 17
Schlagworte:
Semiconductors > Optical properties > Microprobe analysis > Halbleiter > Optoelektronischer Werkstoff > Optische Eigenschaft
Online Zugang:Inhaltsverzeichnis
Publisher description
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Beschreibung
Beschreibung:Includes bibliographical references and index
Beschreibung:XIV, 715 S
Ill., graph. Darst
24 cm
ISBN:1560329416
1-56032-941-6