CTL for test information of digital ICs

CTL for test information of digital ICs

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Kapur, Rohit (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Boston u.a. Kluwer Acad. Publ. 2003
Schlagworte:
Digital integrated circuits > Testing > Computer hardware description languages > Hardwarebeschreibungssprache
Online Zugang:Cover
Table of contents
Publisher description
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Beschreibung
Beschreibung:IX, 173 S.
Ill., graph. Darst.
25 cm
ISBN:1402072937
1-4020-7293-7