6th IEEE International Workshop on Testing Embedded Core-Based System-Chips ; TECS 2002 ; Hyatt Regency Hotel, Monterey, California, May 1 - 2, 2002 ; in conjunction with VTS 2002, the 20th IEEE VLSI Test Symposium

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Körperschaften:	International Workshop on Testing Embedded Core Based System Chips (VerfasserIn), IEEE Computer Society Test Technology Technical Council (BerichterstatterIn), VLSI Test Symposium (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Monterey, Calif. 2002
Schlagworte:	Konferenzschrift
Online Zugang:	Inhaltsverzeichnis
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!

Keine Ergebnisse!