6th IEEE International Workshop on Testing Embedded Core-Based System-Chips ; TECS 2002 ; Hyatt Regency Hotel, Monterey, California, May 1 - 2, 2002 ; in conjunction with VTS 2002, the 20th IEEE VLSI Test Symposium

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Bibliographische Detailangaben
Körperschaften:	International Workshop on Testing Embedded Core Based System Chips (VerfasserIn), IEEE Computer Society Test Technology Technical Council (BerichterstatterIn), VLSI Test Symposium (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Monterey, Calif. 2002
Schlagworte:	Konferenzschrift
Online Zugang:	Inhaltsverzeichnis
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Beschreibung
Beschreibung:	Getr. Zählung [ca. 100 S.]