4th IEEE International Workshop on Testing Embedded Core-Based System-Chips ; TECS 2000 ; Omni Montreal Hotel, Montreal, Quebec, Canada, May 3 - 4, 2000 ; in conjunction with VTS 2000, the 18th IEEE VLSI Test Symposium

Bibliographische Detailangaben

Körperschaften:	International Workshop on Testing Embedded Core Based System Chips (VerfasserIn), IEEE Computer Society Test Technology Technical Council (BerichterstatterIn), VLSI Test Symposium (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Montreal 2000
Schlagworte:	Konferenzschrift
Online Zugang:	Inhaltsverzeichnis
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