Anomalous X-ray scattering for materials characterization atomic-scale structure determination

Literaturangaben

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Waseda, Yoshio (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Berlin, Heidelberg u.a. Springer 2002
Schriftenreihe:	Springer tracts in modern physics 179
Schlagworte:	X-rays > Scattering > X-ray crystallography > Anomale Röntgenstreuung > Röntgenkristallographie > Werkstoffprüfung
Online Zugang:	Cover Inhaltsverzeichnis Publisher description
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