Electrically based microstructural characterization III : symposium held [at the 2001 MRS fall meeting,] November 26 - 29, 2001, Boston, Massachusetts, U.S.A.

Electrically based microstructural characterization III symposium held [at the 2001 MRS fall meeting,] November 26 - 29, 2001, Boston, Massachusetts, U.S.A.

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Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser: Gerhardt, Rosario A. (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Warrendale, Pa. Materials Research Society c2002
Schriftenreihe:Materials Research Society symposium proceedings 699
Schlagworte:
Materials > Microscopy > Microstructure > Konferenzschrift > Werkstoff > Mikrostruktur > Elektrische Eigenschaft > Lithografie > Werkstoffkunde
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Beschreibung
Beschreibung:Includes bibliographical references and indexes
Beschreibung:xi, 356 p
ill
24 cm
ISBN:1558996354
1-55899-635-4