Proceedings / 20th IEEE VLSI Test Symposium (VTS 2002) : 28 April - 2 May, 2002, Monterey, California

Proceedings / 20th IEEE VLSI Test Symposium (VTS 2002) 28 April - 2 May, 2002, Monterey, California

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaften: VLSI Test Symposium (VerfasserIn), IEEE Computer Society Test Technology Technical Council (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Los Alamitos, Calif. u.a. IEEE Computer Society 2002
Schlagworte:
Konferenzschrift > VLSI
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Beschreibung
Beschreibung:Kongr.-Thema: Synergies of innovative test research and practice
IEEE Computer Society order number PR01570
Beschreibung:XXXVII, 452 S
ISBN:0769515703
0-7695-1570-3
076951572X
0-7695-1572-X
0769515711
0-7695-1571-1